b2bay площадка оборудования для бизнеса
Главная / Каталог импорт / Электронные компоненты / Прочее / H116SP

Электронный компонент Prior Scientific H116SP Hardness Testing Stage Wafer Inspection — продавец №3407526

Название у продавца: Prior Scientific H116SP Hardness Testing Stage Wafer Inspection

644 000 ₽

Состояние: Б/у, проверено · партномер: H116SP · лот B2B-0AEB603BD0 · отгрузка: США

Цена финальная: лот, выкуп у продавца, доставка в Россию и оформление уже внутри. Лот выкупает и везёт B2Bay: счёт по ИНН, оплата на счёт площадки, закрывающие документы. Лот не соответствует описанию — замена или возврат денег.

Электронный компонент Prior Scientific H116SP Hardness Testing Stage Wafer Inspe — фото лота 1

Продавец: Продавец №3407526 · 99,1 % положительных · более 1 000 отзывов · США · 118 объявлений. Все объявления продавца

Все предложения по модели H116SP →

О товаре

Номер лотаB2B-0AEB603BD0
ПартномерH116SP
МодельЭлектронный компонент Prior Scientific H116SP Hardness Testing Stage Wafer Inspection
РазделЭлектронные компоненты
СостояниеБ/у, проверено
Откуда отгрузкаСША

Описание продавца

Перевод описания продавца — автоматический, оригинал ниже.

Линейное перемещение по оси "x" составляет 178mm, а вращение – 360 градусов. Данное устройство было разработано в основном для проверки кремниевых пластин, однако может быть использовано для различных приложений. Высокоточное позиционирование контролируется линейным энкодером RSF с разрешением 20 микрон по обеим осям.

Описание в оригинале

Linear "x" travel is 178mm & Rotation is 360 degrees. This was was Primarily designed for semiconductor wafer inspection, however it can be used for several applications. High resolution positioning is monitored by a RSF Linear Encoder with 20 micron resolution in both axis.

Ещё у продавца №3407526