b2bay площадка оборудования для бизнеса
Главная / Каталог импорт / Электронные компоненты / Платы и модули / JWS-2000

Электронный компонент JEOL Wafer Loader Transport Robot JWS-2000

Полное наименование: Электронный компонент JEOL Wafer Loader Transport Robot Assembly JWS-2000 Wafer Defect SEM

Электронный компонент JWS-2000

от 112 000 ₽

Партномер: JWS-2000 · состояние: Б/у, проверено · предложений: 6 · разброс цен 112 000–204 000 ₽

Открыть карточку и выбрать предложение →

Характеристики

АртикулJWS-2000
СостояниеБ/у, проверено
Гарантияплощадки, от 3 месяцев

Предложения продавцов

ПродавецСостояниеСкладРейтингЦена
Продавец №92226Б/у, провереноСША99.8 %112 000 ₽
Продавец №92226Б/у, провереноСША99.8 %166 000 ₽
Продавец №92226Б/у, провереноСША99.8 %168 000 ₽
Продавец №92226Б/у, провереноСША99.8 %186 000 ₽
Продавец №92226Б/у, провереноСША99.8 %204 000 ₽
Продавец №92226На запчастиСША99.8 %222 000 ₽

Описание

Партномер JWS-2000, состояние — б/у, проверяется на стенде перед отправкой. Сейчас на позицию собрано 6 предложений поставщиков со складов США; цены от 112 000 до 204 000 ₽. Отметки продавца: продавец отметил повреждение — уточняйте детали.

JWS-2000 — электронный компонент. Раздел каталога «Электронные компоненты».

Описания лотов от продавцов

Лот продавца №92226 · Б/у, проверено · 112 000 ₽

Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин. Номер детали: Детектор вторичных электронов.

ПартномерSVB-12MVE
БрендSRC
МодельVME BUS BACK BOARD
КатегорияSemiconductor Tools Systems and Components

Лот продавца №92226 · Б/у, проверено · 166 000 ₽

Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин. Рабочее, избыточное оборудование. Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин.

ПартномерSVB-12MVE
БрендSRC
МодельVME BUS BACK BOARD
КатегорияSemiconductor Tools Systems and Components

Лот продавца №92226 · Б/у, проверено · 168 000 ₽

Этот детектор JEOL Column Detector Assembly находится в рабочем избыточном состоянии. Снят с JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Scanning Electron Microscope System.

ПартномерSVB-12MVE
БрендSRC
МодельVME BUS BACK BOARD
КатегорияSemiconductor Tools Systems and Components

Другие позиции раздела «Электронные компоненты»