
| Артикул | JWS-2000 |
| Состояние | Б/у, проверено |
| Гарантия | площадки, от 3 месяцев |
| Продавец | Состояние | Склад | Рейтинг | Цена |
|---|---|---|---|---|
| Продавец №92226 | Б/у, проверено | США | 99.8 % | 112 000 ₽ |
| Продавец №92226 | Б/у, проверено | США | 99.8 % | 166 000 ₽ |
| Продавец №92226 | Б/у, проверено | США | 99.8 % | 168 000 ₽ |
| Продавец №92226 | Б/у, проверено | США | 99.8 % | 186 000 ₽ |
| Продавец №92226 | Б/у, проверено | США | 99.8 % | 204 000 ₽ |
| Продавец №92226 | На запчасти | США | 99.8 % | 222 000 ₽ |
Партномер JWS-2000, состояние — б/у, проверяется на стенде перед отправкой. Сейчас на позицию собрано 6 предложений поставщиков со складов США; цены от 112 000 до 204 000 ₽. Отметки продавца: продавец отметил повреждение — уточняйте детали.
JWS-2000 — электронный компонент. Раздел каталога «Электронные компоненты».
Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин. Номер детали: Детектор вторичных электронов.
| Партномер | SVB-12MVE |
| Бренд | SRC |
| Модель | VME BUS BACK BOARD |
| Категория | Semiconductor Tools Systems and Components |
Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин. Рабочее, избыточное оборудование. Извлечено из системы сканирующего электронного микроскопа JEOL JWS-2000 для проверки дефектов пластин.
| Партномер | SVB-12MVE |
| Бренд | SRC |
| Модель | VME BUS BACK BOARD |
| Категория | Semiconductor Tools Systems and Components |
Этот детектор JEOL Column Detector Assembly находится в рабочем избыточном состоянии. Снят с JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Scanning Electron Microscope System.
| Партномер | SVB-12MVE |
| Бренд | SRC |
| Модель | VME BUS BACK BOARD |
| Категория | Semiconductor Tools Systems and Components |